導(dǎo)讀：

高低溫試驗箱的保壓過程通常發(fā)生在溫度穩(wěn)定階段（即升溫/降溫至目標值后的恒溫階段），此時設(shè)備通過PID控制維持箱內(nèi)壓力穩(wěn)定，避免因溫度波動導(dǎo)致試樣失效。用戶選型時需重點關(guān)注溫度均勻性、壓力控制精度、安全聯(lián)鎖功能等參數(shù)，并結(jié)合GB/T 2423、IEC 60068等標準驗證設(shè)備可靠性。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 保壓過程的技術(shù)原理
3. 關(guān)鍵參數(shù)與選型決策
4. 設(shè)備對比表
5. 采購與驗收Checklist
6. 常見問題解答（FAQ）
7. 外部參考

快速答案卡片：

• 保壓階段：溫度穩(wěn)定后的恒溫階段（如+85℃或-40℃保持）。
• 核心參數(shù)：溫度均勻性±2℃、壓力波動±5kPa、采樣率≥1次/秒。
• 選型關(guān)鍵：負載容量、控制方式（伺服優(yōu)于PID）、安全聯(lián)鎖（超溫/過壓保護）。
• 標準依據(jù)：GB/T （高溫）、GB/T （低溫）、IEC 60068-2-1。

保壓過程的技術(shù)原理

1. 保壓階段的定義

保壓指試驗箱在達到目標溫度后，通過閉環(huán)控制系統(tǒng)維持箱內(nèi)壓力穩(wěn)定的過程。其目的是模擬真實環(huán)境中的長期熱應(yīng)力，驗證試樣（如電子元器件、電池、材料）在極端溫度下的可靠性。

2. 典型工況與失效機理

• 高溫保壓：加速材料氧化、絕緣層老化，常見失效包括電容漏電、塑料變形。
• 低溫保壓：引發(fā)材料脆化、潤滑劑凝固，常見失效包括金屬冷脆、密封件泄漏。
• 溫度循環(huán)保壓：結(jié)合升降溫速率，模擬熱脹冷縮導(dǎo)致的焊點疲勞、結(jié)構(gòu)應(yīng)力。

3. 關(guān)鍵控制參數(shù)

關(guān)鍵參數(shù)與選型決策

1. 選型決策流程

1. 明確需求：試樣尺寸（長×寬×高）、負載重量、溫度范圍（-70℃~+150℃常見）。
2. 驗證精度：要求廠商提供第三方校準報告（如CNAS認證）。
3. 控制方式對比：
   • PID控制：成本低，適用于穩(wěn)定工況，但響應(yīng)速度慢。
   • 伺服控制：精度高（± ℃），適合快速溫變試驗，成本增加30%~50%。
4. 安全功能：超溫報警、門鎖聯(lián)鎖、急停按鈕為必備項。

2. 詢價模板

3. 驗收與校準清單

• 外觀檢查：箱體無變形，門封條密封性良好。
• 功能測試：
  • 升溫速率：≥3℃/min（空載）
  • 降溫速率：≥2℃/min（空載）
  • 保壓穩(wěn)定性：24小時壓力波動≤±3kPa。
• 校準項目：溫度傳感器、壓力傳感器、風速均勻性。

設(shè)備對比表

采購與驗收Checklist

1. 需求確認：試樣尺寸、溫度范圍、循環(huán)次數(shù)。
2. 技術(shù)協(xié)議：明確控制精度、安全功能、驗收標準。
3. 報價對比：含稅價、運費、安裝調(diào)試費。
4. FAT/SAT測試：
   • FAT（工廠驗收）：空載溫變測試、保壓穩(wěn)定性。
   • SAT（現(xiàn)場驗收）：帶載測試、安全聯(lián)鎖驗證。
5. 計量校準：委托第三方機構(gòu)（如SGS）出具校準證書。
6. 維保條款：保修期（通常1年）、響應(yīng)時間（≤24小時）。

常見問題解答（FAQ）

Q1：保壓階段溫度波動大怎么辦？
A：檢查風道是否堵塞、加熱/制冷功率是否匹配，或升級為伺服控制系統(tǒng)。

Q2：如何判斷設(shè)備保壓能力達標？
A：參考GB/T 要求，24小時溫度波動≤±2℃，壓力波動≤±5kPa。

Q3：低價設(shè)備可能存在哪些隱患？
A：壓縮機組質(zhì)量差（易漏氟）、傳感器精度低（數(shù)據(jù)失真）、安全聯(lián)鎖缺失（超溫風險）。

Q4：設(shè)備維護周期是多久？
A：每3個月清潔冷凝器、每6個月校準傳感器、每年更換密封條。

Q5：進口與國產(chǎn)設(shè)備如何選擇？
A：預(yù)算充足選進口（如ESPEC），性價比選國產(chǎn)（如隆安、泰格），優(yōu)先考察廠商案例。

外部參考

• 中國電器科學(xué)研究院：《環(huán)境試驗設(shè)備校準規(guī)范》欄目
• IEC國際電工委員會：IEC 60068系列標準