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隆安
2025-11-14 14:50:35
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件低溫試驗箱(低溫存儲/測試)與凍融試驗箱(溫度循環(huán)沖擊)是環(huán)境模擬測試的核心設備,分別適用于材料低溫穩(wěn)定性驗證與熱脹冷縮疲勞測試。選型需關注溫度范圍、控制精度、負載能力及安全聯鎖,優(yōu)先選擇符合GB/T 2423、IEC 60068等標準的廠商,避免因參數虛標或維護缺失導致測試失效。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 件低溫試驗箱典型溫度范圍 | -70℃至+150℃(依型號) |
| 凍融試驗箱循環(huán)周期 | 1-48小時可調(默認24小時) |
| 核心選型參數 | 溫度均勻性、負載容量、控制方式(伺服/PID) |
| 推薦標準 | GB/T (低溫)、GB/T (溫度循環(huán)) |
| 價格區(qū)間 | 5萬-50萬元(依容積與精度) |
件低溫試驗箱:用于材料/部件在恒定低溫下的性能驗證(如金屬脆化、塑料收縮),典型工況包括航空航天電子元件存儲(-60℃)、汽車電池低溫放電測試(-40℃)。
凍融試驗箱:模擬溫度交變環(huán)境(如-40℃至+80℃循環(huán)),測試材料熱疲勞(混凝土凍融、電子封裝開裂),周期通常為24小時(12小時冷凍/12小時解凍)。
失效機理:
參數表:
| 參數 | 件低溫試驗箱 | 凍融試驗箱 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃至+150℃ | -40℃至+80℃(常見) |
| 溫度波動度 | ± ℃ | ± ℃ |
| 負載容量 | 50kg-500kg(依容積) | 20kg-200kg |
| 控制方式 | PID/伺服 | 程序控制(可設循環(huán)次數) |
| 安全聯鎖 | 超溫報警、斷電保護 | 門鎖聯鎖、液位監(jiān)測 |
選型決策流程:
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