

隆安
2025-11-20 08:56:37
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熱循環(huán)試驗箱作為高溫老化環(huán)境測試的核心設備,選型需聚焦溫度范圍、控制精度、負載容量及安全標準。通過對比技術(shù)參數(shù)、驗證廠商資質(zhì)(如CNAS認證)、嚴格遵循采購流程(需求→驗收→維保),可有效規(guī)避設備性能虛標、售后缺失等風險。
熱循環(huán)試驗箱用于模擬產(chǎn)品在極端溫度交替環(huán)境下的性能衰減,典型應用場景包括:
| 參數(shù) | 定義 | 典型值(高精度型) | 行業(yè)要求 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 箱體可達到的最低/最高溫度 | -70℃~+300℃ | 覆蓋產(chǎn)品極端工況 |
| 控制精度 | 實際溫度與設定值的偏差 | ± ℃ | 電子行業(yè)≤±1℃ |
| 溫度均勻性 | 箱體內(nèi)各點溫度差異 | ≤2℃ | 電池測試≤ ℃ |
| 升溫/降溫速率 | 每分鐘溫度變化量 | 5℃/min(可調(diào)) | 快速溫變測試≥3℃/min |
| 負載容量 | 箱內(nèi)可放置試樣的最大尺寸 | 800×800×1000mm(定制) | 需匹配產(chǎn)品實際尺寸 |
| 廠商型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積(L) | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 四達ES-2000 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 2000 | ± ℃ | GB/T 2423、IEC 60068 | 遠程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 偉思捷WT-1000 | -40℃~+150℃ | 20%~95%RH | 1000 | ±1℃ | MIL-STD-810G | 應急停機保護 |
| 林頻LQ-500 | -20℃~+120℃ | 30%~85%RH | 500 | ± ℃ | ASTM D4332 | 節(jié)能模式 |
Q1:如何判斷設備控制精度是否達標?
A:使用標準溫度源(如Hart Scientific 1502A)在箱體內(nèi)多點測試,記錄實際值與設定值的偏差,連續(xù)測試24小時取平均值。
Q2:設備故障率高的常見原因?
A:加熱元件老化(占40%)、傳感器漂移(30%)、制冷劑泄漏(20%)。需定期更換鎳鉻加熱管(每3年)并校準PT100傳感器。
Q3:是否需要配置濕度功能?
A:電子元器件測試通常不需要;電池測試需濕度控制(參考GB/T 31485-2015要求20%~90%RH)。
因老化試驗設備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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