

隆安
2025-11-20 09:02:04
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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高溫老化試驗(yàn)用于驗(yàn)證電子元器件、材料在長(zhǎng)期熱應(yīng)力下的性能衰減,常見(jiàn)失效模式包括:
| 參數(shù) | 技術(shù)要求 | 失效風(fēng)險(xiǎn) |
|---|---|---|
| 溫度均勻度 | ≤2℃(空載/滿載) | 局部過(guò)熱導(dǎo)致測(cè)試導(dǎo)讀偏差 |
| 溫度波動(dòng)度 | ≤ ℃/10min | 短期波動(dòng)掩蓋真實(shí)失效閾值 |
| 濕度控制精度 | ±3%RH(40℃~85℃) | 凝露影響電性能測(cè)試 |
| 升溫速率 | 3~5℃/min(可調(diào)) | 熱沖擊損傷試樣 |
控制方式對(duì)比:
| 驗(yàn)收項(xiàng) | 合格標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)工具 |
|---|---|---|
| 溫度均勻性 | ≤2℃(9點(diǎn)法) | 多通道溫度記錄儀 |
| 升溫速率 | 3℃/min± ℃ | 紅外測(cè)溫儀 |
| 報(bào)警功能 | 超溫3℃內(nèi)觸發(fā)聲光報(bào)警 | 模擬超溫測(cè)試 |
| 品牌 | 溫度范圍 | 容積選項(xiàng) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | 價(jià)格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ESPEC | -70℃~+300℃ | ~2m3 | ± ℃ | GB/T 2423, MIL-STD | 遠(yuǎn)程診斷系統(tǒng) | 35萬(wàn)~80萬(wàn) |
| Weiss | -40℃~+180℃ | ~ 3 | ± ℃ | IEC 60068, ASTM | 真空測(cè)試模塊 | 25萬(wàn)~60萬(wàn) |
| 重慶四達(dá) | -20℃~+150℃ | ~1m3 | ±1℃ | GB/T 2423 | 經(jīng)濟(jì)型設(shè)計(jì) | 8萬(wàn)~20萬(wàn) |
Q1:試驗(yàn)箱不確定度超標(biāo)如何排查? A:1. 檢查溫度傳感器校準(zhǔn)有效期;2. 確認(rèn)加熱管/制冷機(jī)組功率衰減;3. 驗(yàn)證風(fēng)道循環(huán)是否堵塞。
Q2:二手設(shè)備能否用于認(rèn)證測(cè)試? A:不可。ISO 17025要求設(shè)備需有完整溯源鏈,二手設(shè)備無(wú)原始校準(zhǔn)記錄,測(cè)試數(shù)據(jù)無(wú)效。
Q3:濕度控制不穩(wěn)定的原因? A:常見(jiàn)于加濕器結(jié)垢、排水管堵塞或濕度傳感器偏移,需每季度深度清潔。
Q4:如何延長(zhǎng)設(shè)備壽命? A:1. 每月運(yùn)行空載除濕程序;2. 避免頻繁啟停(間隔≥30分鐘);3. 使用純凈水加濕。
Q5:進(jìn)口設(shè)備與國(guó)產(chǎn)設(shè)備的差異? A:進(jìn)口設(shè)備在長(zhǎng)期穩(wěn)定性(MTBF>5000小時(shí))和軟件功能(如多段編程)上占優(yōu),國(guó)產(chǎn)設(shè)備在交付周期(4周vs12周)和成本上更具優(yōu)勢(shì)。
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