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隆安
2025-12-08 08:52:05
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
檢測試驗箱選型需明確負載、溫度范圍、控制精度等核心參數(shù)，優(yōu)先選擇符合GB/T 2423、IEC 60068等標準的設(shè)備。采購流程中需重點審核技術(shù)協(xié)議、驗收校準環(huán)節(jié)，避免低價陷阱。推薦通過第三方計量機構(gòu)驗證設(shè)備性能，優(yōu)先選擇提供FAT/SAT現(xiàn)場測試的廠商。
| 核心參數(shù) | 推薦值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+300℃（電子元件老化） |
| 溫度波動度 | ≤±0.5℃（IEC 60068-2-1） |
| 均勻性 | ≤2℃（全容積空間） |
| 升溫速率 | 3~5℃/min（典型值） |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載/門鎖保護（必備） |
| 測試類型 | 溫度范圍 | 濕度要求 |
|---|---|---|
| HAST測試 | 105℃~130℃ | 85%~100%RH |
| 高溫存儲 | 85℃~150℃ | 非凝露 |
| 功率循環(huán) | -40℃~+125℃ | 可選 |
| 類型 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 標準 |
|---|---|---|---|---|---|
| 高溫老化箱 | 室溫~+300℃ | 非控 | 100L~2000L | ±1℃ | GB/T 2423.2 |
| 恒定濕熱箱 | -20℃~+150℃ | 20%~98%RH | 150L~1000L | ±2℃,±3%RH | IEC 60068-2-78 |
| 快速溫變箱 | -70℃~+150℃ | 可選 | 80L~500L | ±0.5℃ | MIL-STD-810G |
| HAST加速箱 | 105℃~130℃ | 85%~100%RH | 64L~216L | ±1.5℃,±2%RH | JEDEC JESD22-A110 |
| 品牌 | 溫度均勻性 | 控制方式 | 售后服務(wù) | 典型客戶 |
|---|---|---|---|---|
| ESPEC（日本） | ≤1.5℃ | PLC+觸摸屏 | 2年保修，48小時響應(yīng) | 豐田、索尼 |
| CSZ（美國） | ≤2℃ | 伺服控制 | 全球聯(lián)保 | 波音、特斯拉 |
| 重慶四達 | ≤2.5℃ | PID+繼電器 | 1年保修，本地化服務(wù) | 華為、中興 |
| 偉思富奇 | ≤1℃ | 總線控制 | 3年保修，年度巡檢 | 西門子、ABB |
致：XXX公司
請?zhí)峁┮韵略O(shè)備的技術(shù)方案及報價：
1. 溫度范圍：-40℃~+150℃（快速溫變）
2. 容積：500L（負載率≤70%）
3. 控制精度：±0.5℃
4. 符合標準：GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14
5. 附加要求：提供CNAS校準證書、FAT測試報告
| 階段 | 關(guān)鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求分析 | 明確測試對象、工況、樣本尺寸 | 《技術(shù)需求規(guī)格書》 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 確認參數(shù)、標準、驗收條款 | 雙方簽字的技術(shù)協(xié)議 |
| FAT測試 | 在廠商工廠進行性能驗證 | 《FAT測試報告》 |
| 安裝調(diào)試 | 檢查水平度、接地電阻、通風(fēng) | 《安裝調(diào)試記錄》 |
| 計量校準 | 委托第三方機構(gòu)進行精度驗證 | CNAS校準證書 |
| 維保協(xié)議 | 明確備件供應(yīng)、響應(yīng)時間 | 《維保合同》 |
在空載狀態(tài)下，將9個溫度傳感器均勻布置在工作空間（上中下三層，每層3點），運行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù)。根據(jù)GB/T 5170.2-2017，最大溫差應(yīng)≤設(shè)備標稱均勻性值的1.5倍。
優(yōu)質(zhì)鎳鉻合金加熱管在合理使用下可達10000小時以上。劣質(zhì)產(chǎn)品可能因材料純度不足（如含鐵量過高）導(dǎo)致3000小時內(nèi)斷裂。建議每2000小時檢查加熱管電阻值，變化超過10%需更換。
HAST（高度加速應(yīng)力試驗）通過提高溫度（≥105℃）和濕度（≥85%RH）并施加壓力（2~3個大氣壓），將傳統(tǒng)85℃/85%RH試驗的等效時間縮短至1/10~1/100。適用于半導(dǎo)體器件的早期失效篩選。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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