光電行業(yè)冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于模擬極端溫度變化對光電產(chǎn)品的影響，選型需關(guān)注溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力及安全聯(lián)鎖功能。核心參數(shù)包括溫度沖擊速率、試樣尺寸、采樣率等，需符合IEC 60068-2-14等標(biāo)準(zhǔn)。采購流程需覆蓋技術(shù)協(xié)議簽訂、FAT/SAT測試及計(jì)量校準(zhǔn)，避免因參數(shù)虛標(biāo)或維護(hù)不當(dāng)導(dǎo)致測試失效。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 選型決策流程與技術(shù)參數(shù)
3. 典型故障與維護(hù)要點(diǎn)
4. 設(shè)備對比表
5. 采購全流程Checklist
6. FAQ
7. 外部參考
8. 聲明

快速答案卡片

選型決策流程與技術(shù)參數(shù)

1. 試驗(yàn)?zāi)康呐c典型工況

光電產(chǎn)品（如LED芯片、光纖連接器、攝像頭模組）需驗(yàn)證極端溫度沖擊下的可靠性，例如：

• 溫度循環(huán)：-40℃→+85℃（10分鐘內(nèi)完成切換）
• 失效機(jī)理：材料熱脹冷縮導(dǎo)致焊點(diǎn)開裂、封裝層剝離、光學(xué)性能衰減。

2. 關(guān)鍵參數(shù)表

3. 選型決策流程

1. 明確測試需求：溫度范圍、沖擊次數(shù)、樣品類型
2. 驗(yàn)證廠商資質(zhì)：ISO 9001認(rèn)證、第三方校準(zhǔn)報(bào)告
3. 對比技術(shù)協(xié)議：重點(diǎn)核查溫度均勻性（±2℃內(nèi)）
4. 詢價(jià)模板示例：
   致XX廠商：
需采購冷熱沖擊試驗(yàn)箱，要求溫度范圍-65℃~+150℃，沖擊速率≤15秒，負(fù)載容量20kg。請?zhí)峁┓螴EC 60068-2-14的方案及報(bào)價(jià)。

典型故障與維護(hù)要點(diǎn)

1. 常見故障與解決方案

2. 維護(hù)與校準(zhǔn)清單

• 每日：檢查制冷劑壓力、排水口暢通
• 每月：清潔冷凝器、驗(yàn)證溫度傳感器
• 每年：更換干燥過濾器、校準(zhǔn)整個(gè)溫度系統(tǒng)（需CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu)）

設(shè)備對比表

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確溫度范圍、沖擊次數(shù)、樣品類型
2. 技術(shù)協(xié)議簽訂：要求廠商提供溫度均勻性測試報(bào)告
3. 報(bào)價(jià)對比：核查是否包含運(yùn)輸、安裝、培訓(xùn)費(fèi)用
4. FAT測試（工廠驗(yàn)收）：驗(yàn)證溫度沖擊速率、聯(lián)鎖功能
5. SAT測試（現(xiàn)場驗(yàn)收）：模擬實(shí)際工況連續(xù)運(yùn)行72小時(shí)
6. 計(jì)量校準(zhǔn)：委托第三方機(jī)構(gòu)出具CNAS報(bào)告
7. 維保協(xié)議：明確備件供應(yīng)周期、響應(yīng)時(shí)間

FAQ

Q1：如何判斷設(shè)備溫度均勻性是否達(dá)標(biāo)？

依據(jù)IEC 60068-2-14，在空載狀態(tài)下，工作室內(nèi)各點(diǎn)溫差應(yīng)≤2℃。測試時(shí)需布置9個(gè)以上溫度傳感器，持續(xù)監(jiān)測1小時(shí)。

Q2：冷熱沖擊試驗(yàn)箱能否替代高低溫箱？

不能。冷熱沖擊箱側(cè)重溫度快速切換，高低溫箱側(cè)重長時(shí)間穩(wěn)態(tài)測試。例如，光電模塊的焊點(diǎn)可靠性需兩者結(jié)合驗(yàn)證。

Q3：設(shè)備報(bào)價(jià)差異大的原因是什么？

主要取決于制冷系統(tǒng)（復(fù)疊式/單級壓縮）、控制精度（PLC/單片機(jī)）及安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)。低價(jià)設(shè)備可能省略超溫保護(hù)或使用劣質(zhì)傳感器。

Q4：采購時(shí)需要廠商提供哪些資質(zhì)文件？

需提供ISO 9001質(zhì)量管理體系證書、設(shè)備校準(zhǔn)報(bào)告（CNAS認(rèn)可）、類似項(xiàng)目案例及售后服務(wù)承諾函。

Q5：設(shè)備使用中突然停電怎么辦？

立即關(guān)閉總電源，待恢復(fù)供電后按以下步驟操作： 1. 檢查制冷系統(tǒng)壓力是否正常； 2. 手動(dòng)復(fù)位聯(lián)鎖保護(hù)裝置； 3. 空載運(yùn)行30分鐘后再加載樣品。

外部參考

• 中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• IEC國際電工委員會(huì)《Environmental testing – Part 2-14: Tests – Test N: Change of temperature》

聲明