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隆安
2025-12-10 09:11:20
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
ESPEC步入式環(huán)境試驗(yàn)箱（Walk-in Environmental Chamber）是高溫老化測試的核心設(shè)備，適用于電子元器件、汽車零部件、航空航天材料等領(lǐng)域的可靠性驗(yàn)證。其核心價(jià)值在于模擬極端溫度環(huán)境（如-70℃~+180℃），通過加速老化測試暴露產(chǎn)品缺陷，縮短研發(fā)周期。典型應(yīng)用場景包括：
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| ESPEC選型關(guān)鍵參數(shù) | 溫度范圍、負(fù)載容積、控制精度、安全聯(lián)鎖 |
| 典型價(jià)格區(qū)間 | 30萬~200萬元（依容積與配置） |
| 核心標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2、MIL-STD-810G |
| 維護(hù)周期 | 每3個(gè)月校準(zhǔn)溫度傳感器，每年更換密封條 |
| 常見故障 | 加熱管燒毀、傳感器漂移、聯(lián)鎖保護(hù)誤觸發(fā) |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 箱內(nèi)可達(dá)到的最低/最高溫度 | -70℃~+180℃ | 決定測試覆蓋能力 |
| 負(fù)載容積 | 箱內(nèi)有效使用空間（m3） | 2~50 | 影響試樣數(shù)量與尺寸 |
| 溫度均勻性 | 箱內(nèi)各點(diǎn)溫度偏差 | ±2℃（空載） | 關(guān)聯(lián)測試結(jié)果可信度 |
| 升溫速率 | 從室溫到最高溫的時(shí)間 | 3~10℃/min | 加速測試效率 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載保護(hù)機(jī)制 | 三級報(bào)警+斷電 | 防止設(shè)備與試樣損壞 |
致ESPEC銷售部：
我司需采購步入式環(huán)境試驗(yàn)箱，需求如下：
1. 溫度范圍：-40℃~+150℃
2. 負(fù)載容積：≥8m3
3. 控制方式：PLC+觸摸屏
4. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-2
請?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報(bào)價(jià)及FAT/SAT測試計(jì)劃。
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積(m3) | 控制精度 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| WIC-300 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 12 | ±1.5℃ | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| WIC-500 | -40℃~+150℃ | 20%~95%RH | 25 | ±2℃ | 爆炸防護(hù)、應(yīng)急排風(fēng) |
| WIC-800 | -20℃~+120℃ | 30%~90%RH | 50 | ±2.5℃ | 多段編程、自動(dòng)報(bào)警 |
| 對比項(xiàng) | ESPEC | CSZ（美國） | Weiss（德國） |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | ±1.5℃ | ±2℃ | ±1.8℃ |
| 升溫速率 | 8℃/min | 6℃/min | 7℃/min |
| 安全聯(lián)鎖 | 三級報(bào)警 | 二級報(bào)警 | 四級報(bào)警 |
| 本地化服務(wù) | 國內(nèi)48小時(shí)響應(yīng) | 海外代工 | 歐洲中心輻射 |
| 價(jià)格（8m3） | 85萬元 | 120萬元 | 110萬元 |
| 風(fēng)險(xiǎn)類型 | 典型表現(xiàn) | 規(guī)避方法 |
|---|---|---|
| 參數(shù)虛標(biāo) | 實(shí)際溫度偏差＞標(biāo)稱值 | 要求廠商提供第三方檢測報(bào)告 |
| 維護(hù)不當(dāng) | 密封條老化導(dǎo)致漏氣 | 簽訂年度維保合同 |
| 標(biāo)準(zhǔn)誤用 | 混淆IEC與GB條款 | 委托第三方機(jī)構(gòu)審核方案 |
| 操作失誤 | 未預(yù)熱直接升至高溫 | 編制SOP并培訓(xùn)操作員 |
核心部件（如壓縮機(jī)、加熱管）壽命約8-10年，定期維護(hù)可延長至12年。2025年ESPEC用戶調(diào)研顯示，65%的設(shè)備服役超過8年。
需核查設(shè)備是否通過Method 501.6（高溫）和Method 502.6（低溫）測試，并要求廠商提供合規(guī)證書（如TüV SüD認(rèn)證）。
包括焊點(diǎn)開裂、塑料變形、密封失效、電容參數(shù)漂移。2025年IEEE交易報(bào)告指出，電子元件在150℃下老化48小時(shí)，故障率提升3-5倍。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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