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隆安
2025-12-10 09:12:38
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
東莞進口小型氙燈老化箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，適用于塑料、涂料、橡膠等材料的耐候性驗證。選型需重點關(guān)注溫度/濕度范圍、控制精度、光輻照度及安全聯(lián)鎖功能，優(yōu)先選擇符合ISO 4892-2、ASTM G155等國際標準的設(shè)備。采購流程應(yīng)包含技術(shù)協(xié)議確認、FAT/SAT測試及計量校準，避免因參數(shù)虛標或維護缺失導(dǎo)致測試失效。
| 核心參數(shù) | 推薦值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | RT+10℃~120℃（可選150℃） |
| 濕度范圍 | 10%~95%RH（可選凝露循環(huán)） |
| 光輻照度 | 0.35~1.2W/m2@340nm（可調(diào)） |
| 控制精度 | ±0.5℃（溫度）、±2%RH（濕度） |
| 典型標準 | ISO 4892-2、ASTM G155、GB/T 16422.2 |
| 參數(shù) | 定義 | 行業(yè)要求 | 失效風險 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作室內(nèi)各點溫差 | ≤2℃（ISO 188） | 導(dǎo)致材料局部過熱失效 |
| 輻照度穩(wěn)定性 | 氙燈光強波動范圍 | ±5%（ASTM G155） | 影響老化速率一致性 |
| 濾光片類型 | 日光/窗玻璃濾光片 | 依測試目的選擇 | 模擬環(huán)境偏差超15% |
致：XX公司 需采購進口小型氙燈老化箱1臺，要求： - 溫度范圍：RT+10~120℃（精度±0.5℃） - 濕度控制：10%~95%RH（帶凝露功能） - 輻照系統(tǒng)：風冷式氙燈（壽命≥1500h） - 符合標準：ISO 4892-2、ASTM G155 請?zhí)峁?1. 原廠技術(shù)白皮書 2. 近3年同類客戶案例（汽車/電子行業(yè)） 3. FAT測試項目清單
| 應(yīng)用場景 | 溫度 | 濕度 | 輻照度 | 循環(huán)模式 |
|---|---|---|---|---|
| 汽車外飾件 | 60~90℃ | 50%±5% | 0.55W/m2@340nm | 18min光照/2min噴淋 |
| 紡織品色牢度 | 40~60℃ | 65%±10% | 0.35W/m2@420nm | 連續(xù)光照 |
| 光伏組件 | 85℃ | 85%RH | 1.1W/m2@340nm | 雙85測試 |
| 品牌 | 溫度精度 | 濕度精度 | 光輻照控制 | 年故障率 | 服務(wù)響應(yīng) |
|---|---|---|---|---|---|
| ATLAS（美國） | ±0.3℃ | ±1.5%RH | 閉環(huán)反饋 | 0.8% | 72h |
| Q-LAB（美國） | ±0.5℃ | ±2%RH | PID調(diào)節(jié) | 1.2% | 48h |
| 東莞XX進口 | ±0.5℃ | ±2%RH | PWM調(diào)光 | 1.5% | 24h |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 處理措施 |
|---|---|---|
| 溫度波動＞±1℃ | 加熱管老化 | 更換并重新PID調(diào)參 |
| 輻照度衰減＞10% | 濾光片污染 | 無水乙醇清潔（需戴手套） |
| 濕度顯示異常 | 傳感器進水 | 用干燥氮氣吹掃 |
進口設(shè)備在光輻照度控制精度（±3% vs ±5%）和濾光片壽命（≥1500h vs ≤800h）上具有優(yōu)勢，但國產(chǎn)設(shè)備交付周期短（4周 vs 12周）且支持定制化改造。
要求提供：1）原廠技術(shù)白皮書（含測試曲線）；2）近6個月同型號設(shè)備的CNAS校準證書；3）第三方檢測報告（如SGS按ISO 17025執(zhí)行）。
建議預(yù)留通訊接口（RS485/以太網(wǎng)）和額外試樣架位，避免未來升級時需更換整機。例如，某汽車廠商因未預(yù)留噴淋系統(tǒng)接口，導(dǎo)致新增測試需重新采購設(shè)備。
僅適用于研發(fā)階段的小批量測試（單次≤20個樣件）。量產(chǎn)驗證需使用容積≥1m3的設(shè)備，否則可能因空間熱容不足導(dǎo)致溫度過沖。
氙燈模擬全光譜太陽光（含紅外/可見光），適用于整體耐候性測試；UV燈僅發(fā)射特定波段（如UVA 315-400nm），適用于材料光降解機理研究。兩者不可互相替代。
引用機構(gòu)：中國電器科學研究院環(huán)境試驗設(shè)備檢測中心（2025年設(shè)備可靠性報告）
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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