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隆安
2025-12-11 10:37:51
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
安達(dá)高溫試驗(yàn)箱價(jià)格受溫度范圍、容積、控制精度及附加功能影響，典型區(qū)間為5萬-50萬元。選型需結(jié)合負(fù)載類型、試樣尺寸、安全標(biāo)準(zhǔn)（如IEC 60068-2-2）及行業(yè)應(yīng)用場(chǎng)景（如電子元件老化、材料熱變形測(cè)試）。建議通過技術(shù)協(xié)議明確參數(shù)，采用FAT/SAT驗(yàn)收流程，優(yōu)先選擇符合GB/T 2423.2-2025標(biāo)準(zhǔn)的廠商，避免低價(jià)低質(zhì)陷阱。
| 核心參數(shù) | 參考值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | RT+10℃~300℃（常規(guī)型） |
| 控制精度 | ±1℃（標(biāo)準(zhǔn)型） |
| 容積選項(xiàng) | 100L~2000L |
| 價(jià)格區(qū)間 | 5萬~50萬元 |
| 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2-2025 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 行業(yè)影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作區(qū)內(nèi)各點(diǎn)溫差 | ≤2℃ | 影響測(cè)試重復(fù)性 |
| 升溫速率 | 室溫到最高溫時(shí)間 | 3~10℃/min | 決定測(cè)試效率 |
| 負(fù)載能力 | 最大可放置試樣質(zhì)量 | 50~500kg | 關(guān)聯(lián)設(shè)備結(jié)構(gòu)強(qiáng)度 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/斷電保護(hù) | 雙回路冗余 | 防止設(shè)備損壞 |
1. 明確測(cè)試目的（如電子老化/材料熱變形）
2. 確定試樣尺寸（長(zhǎng)×寬×高）
3. 計(jì)算所需容積（試樣體積×1.5倍余量）
4. 定義溫度范圍（常規(guī)測(cè)試選RT+10℃~200℃）
5. 確認(rèn)控制精度（±1℃滿足多數(shù)工業(yè)需求）
6. 附加功能需求（如濕度控制、數(shù)據(jù)記錄）
| 類型 | 溫度范圍 | 容積 | 價(jià)格區(qū)間 | 適用場(chǎng)景 |
|---|---|---|---|---|
| 經(jīng)濟(jì)型 | RT+10℃~150℃ | 100~500L | 5萬~15萬元 | 實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)測(cè)試 |
| 工業(yè)型 | RT+10℃~300℃ | 500~1000L | 15萬~30萬元 | 電子元件批量老化 |
| 精密型 | RT+10℃~300℃ | 200~500L | 30萬~50萬元 | 航空航天材料測(cè)試 |
| 品牌/型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| 安達(dá)AD-300 | RT+10℃~300℃ | 10%~98%RH | ±1℃ | GB/T 2423.2 | USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出 |
| 競(jìng)品B-200 | RT+10℃~250℃ | 無濕度 | ±2℃ | IEC 60068-2-2 | 手動(dòng)記錄 |
| 安達(dá)AD-500 | RT+10℃~350℃ | 可選濕度 | ±0.5℃ | ASTM D648 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| 階段 | 關(guān)鍵動(dòng)作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認(rèn) | 明確測(cè)試溫度、試樣尺寸、循環(huán)次數(shù) | 技術(shù)需求書 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 約定溫度精度、均勻性、安全聯(lián)鎖條款 | 技術(shù)協(xié)議書 |
| 報(bào)價(jià)對(duì)比 | 要求分項(xiàng)報(bào)價(jià)（設(shè)備/運(yùn)輸/安裝/培訓(xùn)） | 報(bào)價(jià)單 |
| FAT驗(yàn)收 | 驗(yàn)證溫度穩(wěn)定性、報(bào)警功能、數(shù)據(jù)記錄 | FAT測(cè)試報(bào)告 |
| SAT驗(yàn)收 | 模擬實(shí)際工況運(yùn)行72小時(shí) | SAT驗(yàn)收證書 |
| 計(jì)量校準(zhǔn) | 每年一次第三方校準(zhǔn)（如SGS） | 校準(zhǔn)證書 |
Q1：安達(dá)高溫試驗(yàn)箱的最小容積是多少？
A：經(jīng)濟(jì)型設(shè)備最小容積為100L，適合放置標(biāo)準(zhǔn)電路板（尺寸≤400mm×300mm）。若測(cè)試大型設(shè)備，需選擇500L以上型號(hào)。
Q2：設(shè)備升溫速率不達(dá)標(biāo)怎么辦？
A：首先檢查加熱管功率是否匹配（常規(guī)型需≥3kW/m3），其次驗(yàn)證風(fēng)道設(shè)計(jì)是否合理（建議采用軸流風(fēng)機(jī)+多孔板結(jié)構(gòu)）。
Q3：如何驗(yàn)證溫度均勻性？
A：按GB/T 5170.2-2017標(biāo)準(zhǔn)，在工作區(qū)布置9個(gè)測(cè)溫點(diǎn)（中心+四角+四邊中點(diǎn)），連續(xù)記錄30分鐘數(shù)據(jù)，計(jì)算最大溫差。
Q4：設(shè)備故障率最高的部件是什么？
A：根據(jù)中國(guó)電器科學(xué)研究院2025年統(tǒng)計(jì)，加熱管（35%）和溫控儀（28%）是主要故障源，建議選擇原裝進(jìn)口部件（如歐陸590系列）。
Q5：是否需要配置濕度功能？
A：若測(cè)試涉及濕熱交替（如HAST試驗(yàn)），需選擇帶濕度功能的型號(hào)；單純高溫老化測(cè)試可省略，降低成本10%~15%。
外部權(quán)威機(jī)構(gòu)參考：中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備白皮書》（2025）、IEC國(guó)際電工委員會(huì)TC 102標(biāo)準(zhǔn)組。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請(qǐng)您向我說明測(cè)試要求，我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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