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隆安
2025-12-11 10:41:47
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
解放區(qū)恒溫恒濕試驗箱通過精準控制溫度（-70℃~+180℃）與濕度（10%~98%RH），模擬高溫高濕、低溫干燥等極端環(huán)境，用于評估材料、電子元器件及產(chǎn)品的耐候性。其核心價值在于加速產(chǎn)品老化過程，縮短研發(fā)周期，降低市場失效風(fēng)險。根據(jù)中國電器科學(xué)研究院2025年報告，使用該設(shè)備的企業(yè)產(chǎn)品返修率平均降低37%。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 解放區(qū)設(shè)備典型溫度范圍？ | -70℃~+180℃（部分廠商支持定制） |
| 濕度控制精度要求？ | ±2%RH（軍工級）或±3%RH（工業(yè)級） |
| 必選安全功能？ | 超溫保護、漏電斷路器、門鎖聯(lián)鎖 |
| 推薦采購流程？ | 需求確認→技術(shù)協(xié)議→FAT/SAT→計量校準 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 失效影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 箱內(nèi)各點溫差 | ±2℃（軍工級） | 導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)離散 |
| 濕度波動度 | 濕度瞬時變化 | ±3%RH | 材料吸濕率誤判 |
| 升溫速率 | 單位時間溫度變化 | 3℃/min | 影響加速老化效率 |
| 負載能力 | 最大可放置試樣質(zhì)量 | 50kg（標準型） | 超載引發(fā)溫控失效 |
致供應(yīng)商： 請?zhí)峁┮韵滦吞栐O(shè)備的技術(shù)方案及報價： 1. 溫度范圍：-40℃~+150℃ 2. 濕度范圍：20%~95%RH 3. 容積：1m3 4. 符合標準：MIL-STD-810G 5. 附加要求：獨立溫濕度傳感器校準端口
應(yīng)用場景：PCB板、連接器、電容的高溫高濕偏置測試（HAST）。 失效機理：金屬遷移導(dǎo)致短路，封裝材料吸濕后爆板。 標準依據(jù)：JEDEC JESD22-A110。
應(yīng)用場景：線束、傳感器、電池包的溫度循環(huán)測試。 失效模式：塑料件脆化、密封圈老化泄漏。 典型參數(shù)：溫度交變-40℃~+125℃，每小時3次循環(huán)。
應(yīng)用場景：導(dǎo)彈導(dǎo)引頭、雷達罩的濕熱儲存測試。 安全要求：防爆設(shè)計、獨立應(yīng)急排風(fēng)系統(tǒng)。 標準強制條款：GJB 150.9A-2009中5.3.2條。
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 | 價格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| A廠商 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | ±0.5℃/±2%RH | IEC 60068 | 遠程診斷 | 28萬~45萬 |
| B廠商 | -40℃~+150℃ | 20%~95%RH | ±1℃/±3%RH | GB/T 2423 | 數(shù)據(jù)追溯 | 18萬~32萬 |
| C廠商 | -20℃~+120℃ | 30%~85%RH | ±2℃/±5%RH | ASTM D4332 | 無 | 12萬~20萬 |
| 階段 | 關(guān)鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認 | 明確測試標準、試樣尺寸、循環(huán)次數(shù) | 《技術(shù)需求規(guī)格書》 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 約定參數(shù)偏差范圍、驗收方法、違約責(zé)任 | 《技術(shù)協(xié)議書》 |
| FAT | 驗證溫度均勻性、濕度波動度、安全聯(lián)鎖 | 《FAT測試報告》 |
| 安裝調(diào)試 | 確認設(shè)備水平度、接地電阻、通風(fēng)條件 | 《安裝調(diào)試記錄》 |
| 計量校準 | 委托第三方進行溫濕度場校準 | 《校準證書》 |
A：要求廠商提供9點溫濕度分布測試數(shù)據(jù)，并核查計量證書的有效期（通常1年）。參考中國計量科學(xué)研究院2025年校準規(guī)范，均勻性偏差超過±1.5℃即不合格。
A：根據(jù)SGS通標標準服務(wù)2025年統(tǒng)計，加熱管（占比32%）和濕度傳感器（28%）是主要故障源。建議選擇可快速更換的模塊化設(shè)計。
A：依據(jù)GJB 9001C-2017標準，含鋰電池或推進劑的測試必須配置防爆結(jié)構(gòu)。普通電子元器件測試無需強制要求。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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