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隆安
2025-12-15 08:43:10
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
大功率電源老化柜是高溫環(huán)境測試中驗證電源可靠性的核心設(shè)備，選型需重點關(guān)注溫度范圍、負(fù)載能力、控制精度及安全聯(lián)鎖功能。采購時需遵循技術(shù)協(xié)議確認(rèn)、FAT/SAT測試、計量校準(zhǔn)等流程，避免因參數(shù)虛標(biāo)或設(shè)計缺陷導(dǎo)致測試失效。典型應(yīng)用場景包括新能源汽車充電模塊、通信基站電源、工業(yè)變頻器等高功率密度設(shè)備的長期穩(wěn)定性驗證。
| 核心參數(shù) | 推薦值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+200℃（工業(yè)級） |
| 負(fù)載能力 | ≥150%額定功率（瞬態(tài)） |
| 控制精度 | ±0.5℃（溫度）、±0.1%FS（電流） |
| 安全標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-78、GB/T 2423.2 |
| 典型價格區(qū)間 | 8萬~50萬元（依配置） |
大功率電源老化柜主要用于驗證電源產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的長期穩(wěn)定性，典型應(yīng)用場景包括：
失效機理：高溫導(dǎo)致電解電容壽命衰減、半導(dǎo)體結(jié)溫超標(biāo)、PCB板分層、接觸器觸點氧化。
| 參數(shù) | 定義 | 推薦值 | 失效邊界 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 腔體內(nèi)各點溫差 | ≤3℃ | ＞5℃導(dǎo)致局部過熱 |
| 負(fù)載階躍響應(yīng) | 負(fù)載突變時電壓波動 | ≤2%FS/10ms | ＞5%可能觸發(fā)保護 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | ≥10Hz | ＜5Hz漏測瞬態(tài)故障 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過流保護 | 三級冗余 | 單級保護風(fēng)險失控 |
| 故障現(xiàn)象 | 根本原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動＞±2℃ | 加熱管接觸不良 | 檢查固態(tài)繼電器觸點 |
| 負(fù)載電流斷續(xù) | 接觸器銀點燒蝕 | 更換歐姆龍G7系列 |
| 數(shù)據(jù)記錄異常 | SD卡接口氧化 | 改用工業(yè)級CFast卡 |
| 項目 | 周期 | 操作要點 |
|---|---|---|
| 循環(huán)風(fēng)機軸承 | 2000h | 加注美孚SHC 634 |
| 鎳鉻加熱絲 | 5000h | 測量電阻值變化率 |
| 鉑電阻探頭 | 每年 | 在冰點槽校準(zhǔn) |
| 廠商 | 溫度范圍 | 負(fù)載精度 | 安全標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|
| 艾德克斯IT6000C | -40℃~+180℃ | ±0.2%FS | IEC 61010 | 支持LAN/USB雙協(xié)議 |
| 致茂Chroma 8000 | -70℃~+200℃ | ±0.5%FS | UL 61010-1 | 內(nèi)置諧波模擬 |
| 是德科技PD6000 | -20℃~+150℃ | ±0.3%FS | GB 4793.1 | 支持電池充放電測試 |
在空載狀態(tài)下設(shè)置100℃，穩(wěn)定后用FLIR E8紅外熱像儀掃描腔體，若溫差＞3℃則需調(diào)整PID參數(shù)。
需確認(rèn)設(shè)備是否配備可調(diào)式托架，典型層間距應(yīng)≥300mm，承重能力≥50kg/層。
要求廠商提供第三方檢測報告（如TüV SüD或SGS），重點核查溫度均勻性、負(fù)載精度等核心數(shù)據(jù)。
1. 中國電器科學(xué)研究院《電源產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性測試規(guī)范》
2. IEEE標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會《Power Electronics Thermal Management》
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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