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隆安
2025-12-22 08:48:11
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
微電腦恒溫恒濕試驗(yàn)箱價(jià)格受溫度范圍、濕度精度、容積、控制方式及附加功能影響，基礎(chǔ)款約8萬-15萬元，高端款可達(dá)30萬-50萬元。選型需明確負(fù)載、試樣尺寸、安全聯(lián)鎖等參數(shù)，優(yōu)先選擇符合GB/T 2423、IEC 60068等標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，通過技術(shù)協(xié)議、FAT/SAT驗(yàn)收、計(jì)量校準(zhǔn)等流程確保可靠性，避免低價(jià)陷阱。
| 參數(shù) | 典型值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+180℃ |
| 濕度范圍 | 10%~98%RH |
| 控制精度 | ±0.5℃/±2%RH |
| 基礎(chǔ)價(jià)格 | 8萬-15萬元 |
| 高端價(jià)格 | 30萬-50萬元 |
| 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423、IEC 60068 |
選型需基于試驗(yàn)?zāi)康模ㄈ珉娮釉邷乩匣⒉牧衔鼭裥詼y試）和典型工況（負(fù)載類型、試樣尺寸、循環(huán)次數(shù)）。
| 參數(shù) | 定義 | 典型要求 |
|---|---|---|
| 負(fù)載 | 設(shè)備內(nèi)可放置的試樣總質(zhì)量 | ≤50kg（中小型） |
| 試樣尺寸 | 單件試樣最大長寬高 | 500mm×500mm×600mm |
| 控制方式 | 伺服（PID閉環(huán)）或液壓 | 優(yōu)先伺服控制 |
| 精度 | 溫度/濕度波動范圍 | ±0.5℃/±2%RH |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | ≥1次/秒 |
| 安全聯(lián)鎖 | 過溫、過濕、漏電保護(hù) | 三級報(bào)警系統(tǒng) |
致[廠商名稱]： 我方需采購微電腦恒溫恒濕試驗(yàn)箱，要求如下： 1. 溫度范圍：-40℃~+150℃ 2. 濕度范圍：20%~95%RH 3. 容積：1m3 4. 控制精度：±0.3℃/±1.5%RH 5. 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423、IEC 60068 請?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報(bào)價(jià)及交貨周期。
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | 價(jià)格（萬元） |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 基礎(chǔ)款 | -20℃~+100℃ | 30%~85%RH | 0.5m3 | ±1℃/±3%RH | GB/T 2423 | 手動校準(zhǔn) | 8-12 |
| 中端款 | -40℃~+150℃ | 10%~98%RH | 1m3 | ±0.5℃/±2%RH | GB/T 2423、IEC 60068 | 自動校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)記錄 | 15-25 |
| 高端款 | -70℃~+180℃ | 5%~98%RH | 2m3 | ±0.3℃/±1.5%RH | MIL-STD-810G | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、多通道采樣 | 30-50 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動超標(biāo) | 加熱管老化、傳感器偏移 | 更換加熱管、重新校準(zhǔn)傳感器 |
| 濕度無法達(dá)到設(shè)定值 | 加濕器堵塞、排水閥故障 | 清洗加濕器、更換排水閥 |
| 控制面板無響應(yīng) | 電源故障、主板損壞 | 檢查電源線路、更換主板 |
A：依據(jù)GB/T 2423.3-2016，在空載和滿載狀態(tài)下分別測試溫度均勻性（≤2℃）和波動度（≤0.5℃），濕度均勻性（≤3%RH）和波動度（≤2%RH）。
A：可能使用劣質(zhì)壓縮機(jī)（壽命短）、簡化安全聯(lián)鎖（易引發(fā)事故）、數(shù)據(jù)采樣率低（無法滿足標(biāo)準(zhǔn)要求）。
A：進(jìn)口設(shè)備（如德國WEISS）在極端溫度（-70℃）和長期穩(wěn)定性上更優(yōu)，但價(jià)格高30%-50%；國產(chǎn)設(shè)備（如重慶銀河）在性價(jià)比和本地化服務(wù)上更具優(yōu)勢。
A：若試驗(yàn)周期長（如90天高溫老化），建議配置備用設(shè)備以避免因故障導(dǎo)致試驗(yàn)中斷。
A：優(yōu)先選擇CNAS認(rèn)可的實(shí)驗(yàn)室（如中國計(jì)量科學(xué)研究院），校準(zhǔn)周期建議每年一次。
中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
IEC 60068-2-1:2007《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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