

隆安
2025-12-26 13:56:37
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
1000升低氣壓試驗(yàn)箱價(jià)格受容積、壓力范圍、控制精度及附加功能影響,核心價(jià)格區(qū)間為28萬-65萬元。選型需明確負(fù)載類型、試樣尺寸、安全聯(lián)鎖等參數(shù),優(yōu)先選擇符合GB/T 2423.25-2025或MIL-STD-810G標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備。采購流程需嚴(yán)格驗(yàn)證技術(shù)協(xié)議、FAT/SAT測(cè)試及計(jì)量校準(zhǔn),避免低價(jià)陷阱與功能虛標(biāo)。
| 核心參數(shù) | 數(shù)值范圍 |
|---|---|
| 容積 | 1000L(試樣尺寸≤800×600×500mm) |
| 壓力范圍 | 1kPa-101kPa(分辨率0.1kPa) |
| 溫度范圍 | -70℃~+150℃(可選) |
| 控制精度 | ±2%FS(壓力)、±1℃(溫度) |
| 安全聯(lián)鎖 | 超壓/欠壓報(bào)警、緊急停機(jī) |
| 價(jià)格區(qū)間 | 基礎(chǔ)型28萬-40萬,高配型45萬-65萬 |
低氣壓試驗(yàn)箱用于模擬高海拔(如航空電子)、快速減壓(航天器密封性)或低壓高溫耦合環(huán)境(如汽車電子)。典型失效機(jī)理包括:
| 參數(shù) | 技術(shù)要求 | 失效影響 |
|---|---|---|
| 壓力控制 | 伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng),采樣率≥10Hz | 壓力波動(dòng)超標(biāo)導(dǎo)致測(cè)試重復(fù)性差 |
| 溫度均勻性 | ≤±2℃(空載) | 溫度梯度引發(fā)材料應(yīng)力不均 |
| 負(fù)載能力 | 靜態(tài)負(fù)載≤200kg,動(dòng)態(tài)振動(dòng)需額外配置 | 超載導(dǎo)致結(jié)構(gòu)變形或傳感器損壞 |
| 安全聯(lián)鎖 | 符合GB 4793.1-2007第5.4條 | 缺失聯(lián)鎖可能引發(fā)爆炸風(fēng)險(xiǎn) |
graph TD
A[明確測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)] --> B{是否需溫度耦合?}
B -->|是| C[選擇溫壓一體箱]
B -->|否| D[選擇純低壓箱]
C --> E[驗(yàn)證溫度斜率是否≥5℃/min]
D --> F[確認(rèn)壓力分辨率是否≤0.1kPa]
E & F --> G[簽訂技術(shù)協(xié)議]
| 應(yīng)用場(chǎng)景 | 標(biāo)準(zhǔn)條款 | 關(guān)鍵參數(shù) |
|---|---|---|
| 航空電子 | RTCA DO-160G Section 4.6 | 快速減壓速率≤30kPa/s |
| 汽車電子 | GB/T 28046.4-2011 | 低壓保持時(shí)間≥12h |
| 包裝運(yùn)輸 | ASTM D4169-22 Schedule E | 最低壓力12.8kPa(模擬4500m海拔) |
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 壓力精度 | 附加功能 | 價(jià)格(萬元) |
|---|---|---|---|---|
| 基礎(chǔ)型A | 常壓~101kPa | ±5%FS | 無 | 28-32 |
| 標(biāo)準(zhǔn)型B | -40℃~+120℃ | ±2%FS | 數(shù)據(jù)記錄儀 | 38-45 |
| 高配型C | -70℃~+150℃ | ±0.5%FS | 振動(dòng)臺(tái)接口 | 55-65 |
需確認(rèn)試樣尺寸是否≤800×600×500mm,超限需定制或選擇分體式結(jié)構(gòu)。
選用伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)+前饋控制算法,典型響應(yīng)時(shí)間≤3s(參考IEEE Trans. on Instrumentation 2025年論文)。
基礎(chǔ)保養(yǎng)(濾芯更換、密封檢查)約0.8萬-1.2萬元/年,真空泵大修需3萬-5萬元/次。
需設(shè)備支持485/Modbus協(xié)議,或通過第三方網(wǎng)關(guān)轉(zhuǎn)換。
國(guó)產(chǎn)設(shè)備交付周期短(45天 vs 進(jìn)口180天),但進(jìn)口設(shè)備在超低溫控制(-80℃以下)更穩(wěn)定。
數(shù)據(jù)來源:中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備選型指南》(2025版)、SAE International ARP598B標(biāo)準(zhǔn)。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請(qǐng)您向我說明測(cè)試要求,我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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