

隆安
2025-12-26 14:02:05
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
廣西地區(qū)智能化試驗(yàn)箱選型需優(yōu)先明確測(cè)試需求(溫度范圍、負(fù)載類型、控制精度),結(jié)合GB/T 2423等標(biāo)準(zhǔn)選擇合規(guī)設(shè)備。價(jià)格受容積、精度、附加功能(如數(shù)據(jù)追溯、遠(yuǎn)程監(jiān)控)影響,典型區(qū)間為8萬(wàn)-50萬(wàn)元。建議通過(guò)FAT/SAT驗(yàn)收、計(jì)量校準(zhǔn)及維保協(xié)議規(guī)避風(fēng)險(xiǎn),優(yōu)先選擇具備CNAS認(rèn)證的廠商。
| 核心問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| 廣西智能化試驗(yàn)箱價(jià)位區(qū)間 | 8萬(wàn)-50萬(wàn)元(基礎(chǔ)型至高精度型) |
| 關(guān)鍵選型參數(shù) | 溫度范圍(-70℃~300℃)、控制精度±0.5℃、容積(100L~2000L) |
| 推薦標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423.2-2008(高溫試驗(yàn))、IEC 60068-2-2 |
| 避坑重點(diǎn) | 核查安全聯(lián)鎖功能、驗(yàn)證采樣率(≥10次/秒)、要求提供FAT/SAT報(bào)告 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 失效影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作室內(nèi)各點(diǎn)溫差 | ≤±2℃ | 試樣局部過(guò)熱導(dǎo)致測(cè)試無(wú)效 |
| 升溫速率 | 室溫至最高溫時(shí)間 | 3℃/min~10℃/min | 速率不足延長(zhǎng)測(cè)試周期 |
| 數(shù)據(jù)采樣率 | 溫度記錄頻率 | 1次/秒~20次/秒 | 低采樣率遺漏瞬態(tài)故障 |
致:XX廠商
需采購(gòu)高溫老化試驗(yàn)箱1臺(tái),要求:
- 溫度范圍:RT+10℃~200℃
- 容積:500L
- 控制方式:PLC+觸摸屏
- 符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.2
請(qǐng)?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報(bào)價(jià)及FAT/SAT計(jì)劃。
工況:125℃持續(xù)1000小時(shí),負(fù)載為PCB板(尺寸200mm×300mm)。
設(shè)備要求:溫度波動(dòng)≤±1℃,具備過(guò)溫保護(hù)(GB/T 2423.2第5.3條),采樣率≥10次/秒。
工況:60℃±2℃持續(xù)720小時(shí),負(fù)載為電池模組(重量≤80kg)。
設(shè)備要求:防爆設(shè)計(jì)(IEC 60068-2-78)、獨(dú)立排風(fēng)系統(tǒng)、緊急斷電聯(lián)鎖。
工況:85℃±3℃持續(xù)500小時(shí),試樣尺寸500mm×500mm。
設(shè)備要求:容積≥1000L,均勻性≤±2.5℃,具備濕度控制(可選)。
| 品牌 | 溫度范圍 | 控制精度 | 附加功能 | 價(jià)格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|
| 重慶四達(dá) | -70℃~300℃ | ±0.5℃ | 數(shù)據(jù)追溯、遠(yuǎn)程監(jiān)控 | 25萬(wàn)-50萬(wàn) |
| 廣州五所 | -40℃~180℃ | ±1℃ | 多段編程、報(bào)警記錄 | 15萬(wàn)-30萬(wàn) |
| 東莞億鑫 | RT+10℃~150℃ | ±2℃ | 基礎(chǔ)控制、無(wú)附加 | 8萬(wàn)-15萬(wàn) |
| 故障類型 | 原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度超調(diào) | PID參數(shù)失調(diào) | 要求廠商提供自整定功能 |
| 傳感器失效 | 鉑電阻老化 | 選擇可更換傳感器設(shè)計(jì) |
| 數(shù)據(jù)丟失 | 存儲(chǔ)器容量不足 | 要求≥10年數(shù)據(jù)存儲(chǔ)能力 |
A:需符合GB/T 2423系列標(biāo)準(zhǔn),出口產(chǎn)品需通過(guò)CE認(rèn)證(歐盟市場(chǎng))或UL認(rèn)證(北美市場(chǎng))。
A:使用標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)(如Fluke 5628)在空載和滿載狀態(tài)下測(cè)量,對(duì)比設(shè)備顯示值與實(shí)測(cè)值差異。
A:不建議,因加熱系統(tǒng)老化可能導(dǎo)致溫度波動(dòng)超標(biāo),且缺乏原始校準(zhǔn)記錄。
A:僅當(dāng)測(cè)試含濕敏元件(如IC封裝)時(shí)需要,普通高溫試驗(yàn)無(wú)需濕度控制。
A:優(yōu)先選擇在南寧、柳州設(shè)有服務(wù)點(diǎn)的廠商,確保48小時(shí)內(nèi)到場(chǎng)維修。
中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目
全國(guó)工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)許可證辦公室《特種設(shè)備安全技術(shù)規(guī)范》欄目
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