

隆安
2025-12-29 08:56:28
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
試驗(yàn)箱高低溫?cái)[放需結(jié)合負(fù)載類型、試樣尺寸、控制精度及安全標(biāo)準(zhǔn),核心參數(shù)包括溫度范圍(-70℃~+300℃)、濕度范圍(10%~98%RH)、容積(50L~2000L)及控制方式(伺服/PID)。擺放時(shí)需滿足標(biāo)準(zhǔn)如IEC 60068-2-1(高溫)和IEC 60068-2-2(低溫),并通過FAT/SAT驗(yàn)收確保設(shè)備合規(guī)。選型需對(duì)比溫度均勻性、分辨率及附加特性,采購流程涵蓋需求確認(rèn)、技術(shù)協(xié)議簽訂至維保服務(wù)。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 試驗(yàn)箱高低溫?cái)[放核心參數(shù) | 溫度范圍、濕度范圍、容積、控制精度、安全聯(lián)鎖 |
| 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-1(高溫)、IEC 60068-2-2(低溫)、GB/T 2423 |
| 選型優(yōu)先級(jí) | 負(fù)載類型→試樣尺寸→控制方式→附加特性 |
試驗(yàn)箱高低溫?cái)[放需滿足以下技術(shù)條件,以避免測(cè)試失效或設(shè)備損壞:
適用標(biāo)準(zhǔn)與邊界:
選型五步法:
參數(shù)解釋表:
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 箱內(nèi)各點(diǎn)溫差 | ≤2℃ | 影響測(cè)試一致性 |
| 升溫速率 | 從室溫到高溫的時(shí)間 | 3℃/min | 決定測(cè)試效率 |
| 濕度波動(dòng) | 濕度控制穩(wěn)定性 | ±3%RH | 影響腐蝕測(cè)試 |
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ESPEC(日本) | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 1000L | ±0.5℃ | IEC 60068 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| Weiss(德國) | -80℃~+300℃ | 5%~95%RH | 500L | ±1℃ | DIN EN 60068 | 自動(dòng)校準(zhǔn) |
| 重慶四達(dá)(中國) | -40℃~+150℃ | 20%~98%RH | 200L | ±1.5℃ | GB/T 2423 | 數(shù)據(jù)追溯 |
典型故障:
維護(hù)清單:
| 項(xiàng)目 | 周期 | 方法 |
|---|---|---|
| 制冷系統(tǒng)檢漏 | 每年 | 氮?dú)饧訅簻y(cè)試 |
| 傳感器校準(zhǔn) | 每半年 | 使用標(biāo)準(zhǔn)源比對(duì) |
| 風(fēng)道清潔 | 每季度 | 吸塵器清理灰塵 |
Q1:試驗(yàn)箱擺放時(shí)是否需要預(yù)留通風(fēng)空間?
A1:需預(yù)留至少30cm后部空間和15cm側(cè)部空間,以確保制冷系統(tǒng)散熱。違反此要求可能導(dǎo)致壓縮機(jī)過熱保護(hù)。
Q2:如何選擇控制方式(伺服 vs PID)?
A2:伺服控制適用于快速溫變測(cè)試(如半導(dǎo)體行業(yè)),PID控制適用于穩(wěn)態(tài)測(cè)試(如塑料老化)。伺服成本高30%~50%,但精度提升50%。
Q3:試驗(yàn)箱價(jià)格區(qū)間是多少?
A3:50L小型箱價(jià)格約5萬~8萬元,1000L大型箱價(jià)格約30萬~50萬元。進(jìn)口品牌(如ESPEC)價(jià)格是國產(chǎn)的1.5~2倍。
Q4:驗(yàn)收時(shí)需檢查哪些項(xiàng)目?
A4:溫度均勻性(9點(diǎn)法測(cè)試)、升溫/降溫速率、濕度控制穩(wěn)定性、安全聯(lián)鎖功能。參考GB/T 5170.5-2016進(jìn)行驗(yàn)收。
Q5:試驗(yàn)箱能否用于鋰電池測(cè)試?
A5:可以,但需選擇防爆型設(shè)備,并符合UN 38.3標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試時(shí)需監(jiān)控電壓、溫度,設(shè)置緊急斷電裝置。
外部專業(yè)來源:中國電器科學(xué)研究院(CEI)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備專欄、IEC國際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)庫
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