北京耐塵試驗(yàn)箱定做需關(guān)注設(shè)備溫度范圍、控制精度、安全聯(lián)鎖等核心參數(shù)，優(yōu)先選擇符合GB/T 2423.37-2014標(biāo)準(zhǔn)的廠商。推薦通過技術(shù)協(xié)議明確驗(yàn)收條款，并參考中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院的校準(zhǔn)規(guī)范。采購流程需包含F(xiàn)AT/SAT測(cè)試及計(jì)量證書，避免低價(jià)陷阱。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 選型決策流程
3. 技術(shù)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)解析
4. 北京廠商橫評(píng)表
5. 常見故障與維護(hù)
6. 采購全流程Checklist
7. FAQ
8. 外部參考
9. 聲明

快速答案卡片

選型決策流程

1. 需求確認(rèn)：明確測(cè)試對(duì)象（如PCB板、連接器）、工況（溫度85℃±2℃，粉塵濃度2g/m3）
2. 參數(shù)匹配：參考表1選擇容積、溫度范圍、控制方式
3. 廠商篩選：核查是否具備CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室及計(jì)量證書
4. 技術(shù)協(xié)議：明確驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 2423.37-2014第5.2條）、故障響應(yīng)時(shí)間

技術(shù)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)解析

耐塵試驗(yàn)箱需模擬高溫高濕與粉塵耦合環(huán)境，核心參數(shù)包括：

• 溫度范圍：室溫+10℃~100℃（電子元器件常用85℃）
• 濕度范圍：20%~95%RH（需與溫度聯(lián)動(dòng)控制）
• 粉塵類型：ISO 12103-1標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)粉塵（A2細(xì)灰）
• 控制方式：PLC+觸摸屏（伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)粉塵循環(huán)）

適用標(biāo)準(zhǔn)：

• GB/T 2423.37-2014《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn)》
• IEC 60068-2-68《Environmental testing – Part 2-68: Tests – Test Lb: Dust and sand》

北京廠商橫評(píng)表

常見故障與維護(hù)

維護(hù)周期：每3個(gè)月校準(zhǔn)溫濕度傳感器，每6個(gè)月清理粉塵過濾網(wǎng)。

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：填寫《環(huán)境試驗(yàn)需求表》（含測(cè)試對(duì)象尺寸、工況參數(shù)）
2. 技術(shù)協(xié)議：明確驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)（如溫度均勻性≤2℃）、交付周期
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：要求提供分項(xiàng)報(bào)價(jià)（設(shè)備費(fèi)、運(yùn)輸費(fèi)、安裝費(fèi)）
4. FAT測(cè)試：在廠商工廠進(jìn)行空載/滿載運(yùn)行測(cè)試
5. SAT驗(yàn)收：現(xiàn)場(chǎng)復(fù)現(xiàn)典型工況，記錄72小時(shí)連續(xù)運(yùn)行數(shù)據(jù)
6. 計(jì)量證書：由第三方機(jī)構(gòu)（如中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院）出具校準(zhǔn)報(bào)告
7. 維保條款：約定故障響應(yīng)時(shí)間（如≤4小時(shí)）、備件庫存

FAQ

Q1：耐塵試驗(yàn)箱與普通高溫箱的區(qū)別？
A1：耐塵箱需配備粉塵循環(huán)系統(tǒng)、濃度監(jiān)測(cè)裝置及防堵塞設(shè)計(jì)，普通高溫箱無此功能。

Q2：如何驗(yàn)證設(shè)備精度？
A2：使用標(biāo)準(zhǔn)溫濕度計(jì)（如Fluke 9133）進(jìn)行多點(diǎn)比對(duì)，誤差需符合GB/T 2423.37要求。

Q3：采購預(yù)算范圍？
A3：0.5m3設(shè)備約8-15萬元，2m3設(shè)備約20-35萬元，含安裝調(diào)試。

Q4：是否需要獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室？
A4：建議配置獨(dú)立排風(fēng)系統(tǒng)，粉塵濃度超標(biāo)時(shí)需啟動(dòng)應(yīng)急處理裝置。

Q5：國(guó)產(chǎn)與進(jìn)口設(shè)備差異？
A5：國(guó)產(chǎn)設(shè)備性價(jià)比高，但進(jìn)口設(shè)備（如德國(guó)Weiss）在長(zhǎng)期穩(wěn)定性上更優(yōu)。

外部參考

• 中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• 全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC 8）

聲明