目錄

1. 快速答案卡片
2. 采購全流程Checklist
3. 選型決策流程與技術(shù)參數(shù)
4. 主流廠商設(shè)備橫評表
5. 常見故障與維護要點
6. 驗收與校準清單
7. 高頻問題解答
8. 聲明與參考文獻

快速答案卡片

采購全流程Checklist

1. 需求確認：明確測試樣品尺寸、溫濕度范圍、循環(huán)次數(shù)
2. 技術(shù)協(xié)議：要求廠商提供PID控制算法說明、安全聯(lián)鎖設(shè)計圖
3. 報價對比：關(guān)注含稅價、運輸費、安裝調(diào)試費分項
4. FAT/SAT測試：現(xiàn)場驗證溫度波動度≤±0.5℃，濕度均勻性≤±3%RH
5. 計量校準：要求提供第三方機構(gòu)（如CNAS）出具的校準證書

選型決策流程與技術(shù)參數(shù)

關(guān)鍵參數(shù)解釋表

選型決策流程

1. 計算樣品總重量與體積，確認工作室有效容積
2. 根據(jù)測試標準（如MIL-STD-810G）確定溫濕度范圍
3. 驗證控制方式：伺服電機驅(qū)動優(yōu)于液壓控制（響應速度提升40%）
4. 要求提供安全聯(lián)鎖設(shè)計：超溫保護、漏電保護、門鎖互鎖

主流廠商設(shè)備橫評表

常見故障與維護要點

高頻故障清單

維護周期表

驗收與校準清單

1. 外觀檢查：確認設(shè)備無運輸損傷，門封條密封性良好
2. 功能測試：
   • 空載運行：驗證溫度均勻性（9點法測量）
   • 滿載測試：確認負載對溫濕度場的影響≤5%
3. 校準項目：
   • 溫度：使用鉑電阻標準器，校準點選-20℃、+85℃、+150℃
   • 濕度：使用電容式濕度發(fā)生器，校準點選30%RH、60%RH、90%RH

高頻問題解答

Q1：如何選擇適合電子元件老化的試驗箱？

需重點關(guān)注溫度波動度（建議≤±0.5℃）和升溫速率（≥3℃/min），同時要求廠商提供EMC測試報告，避免電磁干擾影響測試結(jié)果。

Q2：臺式與立式試驗箱如何選擇？

臺式設(shè)備（容積≤0.5m3）適合實驗室小批量測試，立式設(shè)備（容積≥1m3）適用于生產(chǎn)線大批量老化，需根據(jù)樣品數(shù)量和空間布局決策。

Q3：設(shè)備報價差異大的原因是什么？

核心差異在于控制精度（伺服控制成本是液壓控制的2倍）和材料工藝（304不銹鋼內(nèi)膽比鍍鋅板壽命長5年），低價設(shè)備可能省略安全聯(lián)鎖設(shè)計。

Q4：校準周期如何確定？

根據(jù)ISO 17025標準，建議每12個月校準一次，但高溫高濕環(huán)境（如+85℃/85%RH）下使用的設(shè)備需縮短至6個月。

Q5：進口與國產(chǎn)設(shè)備如何對比？

進口設(shè)備（如德國WEISS）在長期穩(wěn)定性上占優(yōu)，但國產(chǎn)設(shè)備（如隆安儀器）的本地化服務響應更快（24小時到場），維修成本低40%。

聲明與參考文獻

參考文獻：
1. 全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會（SAC/TC 8）
2. 國際電工委員會IEC/TC 104環(huán)境試驗技術(shù)委員會年報