

隆安
2026-01-07 09:45:02
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
800換氣老化試驗(yàn)箱通過(guò)精確控制溫度、換氣速率及濕度,模擬材料在高溫環(huán)境下的長(zhǎng)期老化過(guò)程,廣泛應(yīng)用于電子元器件、汽車(chē)密封件、航空航天材料等領(lǐng)域。選型時(shí)需優(yōu)先驗(yàn)證設(shè)備是否符合GB/T 3512-2014、ASTM D573等標(biāo)準(zhǔn),重點(diǎn)關(guān)注溫度均勻性(±2℃)、換氣次數(shù)(10-300次/小時(shí))及安全聯(lián)鎖功能(超溫報(bào)警、門(mén)鎖保護(hù))。
| 問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| 典型溫度范圍 | RT+10℃~300℃(部分型號(hào)可達(dá)500℃) |
| 核心標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 3512-2014、IEC 60068-2-2 |
| 選型關(guān)鍵參數(shù) | 容積、溫度精度、換氣速率、控制方式 |
| 維護(hù)周期 | 每3個(gè)月校準(zhǔn)溫度傳感器,每年更換循環(huán)風(fēng)機(jī)軸承 |
| 價(jià)格區(qū)間 | 8萬(wàn)-25萬(wàn)元(依配置差異) |
| 參數(shù) | 說(shuō)明 | 典型值 | 失效影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作區(qū)內(nèi)各點(diǎn)溫差 | ±2℃ | 試樣局部過(guò)熱導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真 |
| 換氣次數(shù) | 單位時(shí)間空氣置換量 | 30次/小時(shí) | 氧氣濃度不足影響氧化反應(yīng)模擬 |
| 控制精度 | 設(shè)定值與實(shí)際值偏差 | ±0.5℃ | 長(zhǎng)期運(yùn)行導(dǎo)致材料性能誤判 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/斷電保護(hù) | 三級(jí)報(bào)警 | 設(shè)備損壞或人員燙傷 |
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 容積(L) | 換氣速率 | 控制方式 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 價(jià)格(萬(wàn)元) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| LH-800A | RT+10~300℃ | 800 | 10-100次/h | PID伺服 | GB/T 3512 | 12.5 |
| LH-800B | RT+10~500℃ | 800 | 20-200次/h | PLC+觸摸屏 | ASTM D573 | 18.7 |
| LH-800C | RT+10~300℃ | 800 | 30-300次/h | 伺服+濕度控制 | IEC 60068 | 22.3 |
| 階段 | 關(guān)鍵動(dòng)作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求分析 | 明確試樣尺寸、溫度范圍、測(cè)試周期 | 《測(cè)試需求表》 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 約定溫度均勻性、換氣速率、安全功能 | 《技術(shù)協(xié)議書(shū)》 |
| FAT驗(yàn)收 | 在廠商工廠驗(yàn)證設(shè)備性能(空載運(yùn)行48小時(shí)) | 《FAT測(cè)試報(bào)告》 |
| 安裝調(diào)試 | 檢查水平度、接地電阻、通風(fēng)管道密封性 | 《安裝記錄表》 |
| 計(jì)量校準(zhǔn) | 委托第三方機(jī)構(gòu)(如SGS)校準(zhǔn)溫度傳感器 | 《校準(zhǔn)證書(shū)》 |
A:立即切斷電源,檢查加熱管是否短路、溫度傳感器是否移位。若為傳感器故障,需用標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)(如Fluke 5628)校準(zhǔn),誤差超過(guò)±1℃需更換。
A:換氣次數(shù)低于10次/小時(shí)會(huì)導(dǎo)致氧氣濃度下降,影響材料氧化反應(yīng)速率,使測(cè)試結(jié)果偏離實(shí)際使用場(chǎng)景(參考ASTM D573-2018條款4.3)。
A:在空載狀態(tài)下,將9個(gè)溫度探頭(符合IEC 60584-1標(biāo)準(zhǔn))均勻布置于工作區(qū),運(yùn)行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù),最大差值應(yīng)≤±2℃(GB/T 3512-2014附錄B)。
外部參考:中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)規(guī)范》、SGS通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)《高溫老化試驗(yàn)箱校準(zhǔn)指南》
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