

隆安
2026-01-07 10:00:25
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
大型三層恒溫恒濕試驗(yàn)箱定做價(jià)格受溫度范圍、濕度精度、容積、控制方式及附加功能影響,定制成本通常在15萬(wàn)-80萬(wàn)元區(qū)間。選型需結(jié)合負(fù)載類型、試樣尺寸及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(如IEC 60068、GB/T 2423),優(yōu)先選擇具備安全聯(lián)鎖、遠(yuǎn)程監(jiān)控及計(jì)量認(rèn)證的廠商。采購(gòu)需遵循技術(shù)協(xié)議確認(rèn)、FAT/SAT驗(yàn)收及定期校準(zhǔn)流程,避免低價(jià)陷阱與功能虛標(biāo)。
| 參數(shù) | 典型值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+180℃ |
| 濕度范圍 | 10%~98%RH |
| 容積選項(xiàng) | 1m3~10m3 |
| 控制精度 | ±0.5℃/±2%RH |
| 價(jià)格區(qū)間 | 15萬(wàn)~80萬(wàn)元 |
| 核心標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068、GB/T 2423 |
大型三層試驗(yàn)箱主要用于電子元器件、汽車部件、航空航天材料的高溫老化、濕熱交變、低溫存儲(chǔ)測(cè)試,模擬極端環(huán)境下的失效機(jī)理(如金屬腐蝕、塑料脆化、電路短路)。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括:
| 參數(shù) | 定義 | 重要性 |
|---|---|---|
| 負(fù)載容量 | 單層最大承重(kg) | 影響試樣擺放密度 |
| 試樣尺寸 | 單層有效空間(長(zhǎng)×寬×高) | 決定設(shè)備適用性 |
| 控制方式 | 伺服(PID閉環(huán))/液壓(開環(huán)) | 精度與響應(yīng)速度 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過(guò)載自動(dòng)斷電 | 防止設(shè)備損壞 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄間隔(秒) | 過(guò)程追溯能力 |
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| LH-3000 | -70~+150℃ | 10~98%RH | 3m3 | ±0.3℃/±1.5%RH | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| HT-5000 | -40~+180℃ | 20~95%RH | 5m3 | ±0.5℃/±2%RH | 安全聯(lián)鎖、自動(dòng)排水 |
| ES-8000 | -60~+120℃ | 15~90%RH | 8m3 | ±0.8℃/±3%RH | 液壓加載、多段編程 |
| 廠商 | 價(jià)格區(qū)間 | 核心優(yōu)勢(shì) | 案例 |
|---|---|---|---|
| 隆安老化 | 18萬(wàn)~45萬(wàn) | CMA認(rèn)證、軍工項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn) | 航天五院部件測(cè)試 |
| 環(huán)儀儀器 | 22萬(wàn)~50萬(wàn) | 伺服控制專利、歐盟CE | 華為5G基站老化 |
| 偉思富奇 | 35萬(wàn)~80萬(wàn) | 德國(guó)技術(shù)、低溫-70℃ | 寶馬動(dòng)力電池測(cè)試 |
分層設(shè)計(jì)可同時(shí)進(jìn)行不同溫濕度條件測(cè)試(如上層85℃/85%RH,中層25℃/50%RH,下層-40℃),提升效率30%以上。
要求廠商提供《校準(zhǔn)證書》,核查溫度均勻性(≤2℃)、濕度波動(dòng)度(≤±3%RH),并現(xiàn)場(chǎng)目擊校準(zhǔn)過(guò)程。
液壓控制成本低但精度差(±1℃),適用于粗放測(cè)試;伺服控制通過(guò)PID算法實(shí)現(xiàn)±0.1℃精度,但價(jià)格高30%-50%。
常見于壓縮機(jī)過(guò)載(負(fù)載超標(biāo))、傳感器漂移(未定期校準(zhǔn))、冷凝器堵塞(未清潔),需建立《維護(hù)日志》記錄運(yùn)行數(shù)據(jù)。
IEC 60068要求濕度控制分辨率≤0.5%RH,GB/T 2423允許±2%RH;MIL-STD-810G增加振動(dòng)耦合測(cè)試,需額外配置振動(dòng)臺(tái)。
數(shù)據(jù)來(lái)源:中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》(JJF 1101-2019)、國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)TC 101標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請(qǐng)您向我說(shuō)明測(cè)試要求,我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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