低濕環(huán)境對電子元器件、材料及精密儀器的性能測試至關(guān)重要，而傳統(tǒng)溫濕度試驗箱在低濕控制上常面臨濕度波動大、除濕效率低等痛點。隆安試驗設(shè)備推出的低濕溫濕度試驗箱，通過創(chuàng)新技術(shù)實現(xiàn)濕度精準(zhǔn)可控（1%RH~98%RH），尤其擅長10%RH以下超低濕環(huán)境的穩(wěn)定維持，成為新能源、半導(dǎo)體、航空航天等領(lǐng)域可靠性測試的理想選擇。

一、低濕環(huán)境測試的核心挑戰(zhàn)與技術(shù)突破

低濕測試的難點在于濕度控制精度與環(huán)境穩(wěn)定性。傳統(tǒng)設(shè)備多采用冷卻除濕或干燥劑吸附，但存在兩大缺陷：

• 濕度反彈：冷卻除濕在低溫環(huán)境下易結(jié)霜，導(dǎo)致濕度驟升；
• 能耗高：干燥劑吸附需頻繁再生，增加運行成本。

隆安試驗設(shè)備的解決方案是雙循環(huán)除濕系統(tǒng)： 1. 物理吸附+冷凝除濕復(fù)合技術(shù)：通過分子篩吸附層過濾空氣中的水分，配合獨立冷凝系統(tǒng)將濕度降至5%RH以下，再經(jīng)循環(huán)凈化實現(xiàn)1%RH的極限控制。 2. 智能濕度補償算法：內(nèi)置傳感器實時監(jiān)測濕度，通過PID控制自動調(diào)節(jié)除濕功率，確保長時間測試中濕度波動≤±0.5%RH。

? 關(guān)鍵參數(shù)對比

二、結(jié)構(gòu)設(shè)計：從材料到工藝的全方位優(yōu)化

低濕環(huán)境對設(shè)備密封性要求極高，隆安試驗設(shè)備通過三大設(shè)計實現(xiàn)“零泄漏”： 1. 真空氬弧焊接箱體：采用304不銹鋼一體成型，焊縫處填充惰性氣體，避免氧化腐蝕，使用壽命達15年以上。 2. 四重密封門設(shè)計：外層硅膠密封條+內(nèi)層磁吸條+氣壓鎖緊+觀察窗雙層玻璃，確保開合10萬次后密封性不變。 3. 模塊化風(fēng)道系統(tǒng)：將除濕、加熱、制冷模塊獨立隔離，避免氣流交叉干擾，溫度均勻性≤±0.5℃，濕度均勻性≤±1%RH。

? 用戶真實反饋

“某半導(dǎo)體企業(yè)測試芯片封裝材料時，傳統(tǒng)設(shè)備在48小時測試中出現(xiàn)濕度從8%RH升至12%RH，導(dǎo)致數(shù)據(jù)失效。改用隆安設(shè)備后，連續(xù)72小時測試濕度穩(wěn)定在7.8%RH~8.2%RH，一次通過國際認(rèn)證?！?/p>

三、智能控制系統(tǒng)：讓復(fù)雜測試簡單化

隆安試驗設(shè)備搭載LAC-3000智能控制系統(tǒng)，支持多模式操作：

• 程序模式：可預(yù)設(shè)20段溫濕度曲線，每段時長、斜率、循環(huán)次數(shù)自由定義；
• 遠程監(jiān)控：通過局域網(wǎng)或4G模塊實現(xiàn)手機/PC端實時查看數(shù)據(jù)，異常自動報警；
• 數(shù)據(jù)追溯：內(nèi)置1TB存儲空間，支持U盤導(dǎo)出測試報告，符合ISO/IEC 17025實驗室標(biāo)準(zhǔn)。

? 典型應(yīng)用場景

• 鋰電池隔膜測試：模擬-40℃~85℃、濕度≤5%RH環(huán)境，檢測隔膜在極端條件下的收縮率和穿刺強度；
• 光學(xué)鏡頭防霧測試：通過85℃/5%RH→25℃/80%RH快速溫變，驗證鏡頭鍍膜的防霧性能；
• 軍工電子元件篩選：在-55℃~150℃、濕度1%RH~98%RH寬范圍內(nèi)進行HALT/HASS測試，提前暴露設(shè)計缺陷。

四、為什么選擇隆安試驗設(shè)備？

1. 10年專注老化測試領(lǐng)域：累計交付超5000臺設(shè)備，服務(wù)華為、比亞迪、中科院等300+頭部客戶； 2. 定制化能力突出：支持非標(biāo)尺寸（最大2m3）、特殊溫濕度范圍（最低-70℃）、防爆/潔凈等定制需求； 3. 售后無憂保障：提供2年整機質(zhì)保、終身軟件升級、48小時響應(yīng)服務(wù)，全國設(shè)12個維修中心。

低濕溫濕度試驗箱的技術(shù)門檻在于系統(tǒng)集成能力，而非單一部件性能。隆安試驗設(shè)備通過雙循環(huán)除濕、四重密封、智能控制三大核心技術(shù)，解決了傳統(tǒng)設(shè)備“控不準(zhǔn)、耗能高、壽命短”的痛點。對于需要模擬沙漠、高空、極地等極端環(huán)境的測試場景，選擇隆安意味著選擇更可靠的數(shù)據(jù)、更低的成本和更長的設(shè)備生命周期。